DIN IEC 60747-10-1987 半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 00:15:10 浏览:8566
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;genericspecificationforsemiconductordevicesandintegratedcircuits;identicalwithIEC60747-10,edition1984
【原文标准名称】:半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范
【标准号】:DINIEC60747-10-1987
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1987-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;电子工程;质量;分立式;定型鉴定;电气工程;作标记;外观检查(试验);检验;质量评定;半导体器件;电子设备及元件;环境试验;质量保证体系;试样;质量保证;电学测量;规范;规范;测量;试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55;L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:18P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范
【标准号】:DINIEC60747-10-1987
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1987-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;电子工程;质量;分立式;定型鉴定;电气工程;作标记;外观检查(试验);检验;质量评定;半导体器件;电子设备及元件;环境试验;质量保证体系;试样;质量保证;电学测量;规范;规范;测量;试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55;L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:18P;A4
【正文语种】:德语
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